Thickness Optimization of Underlayer and Seed Layer for Spin Valves.

---

Cinar H., ÖKSÜZOĞLU R. M., Yildirim M.

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES, cilt.65, 2009 (SCI-Expanded)

• Yayın Türü: Makale / Özet
• Cilt numarası: 65
• Basım Tarihi: 2009
• Doi Numarası: 10.1107/s0108767309095683
• Dergi Adı: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES
• Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
• Anahtar Kelimeler: multilayer thin films, X-ray reflectometry, X-ray rocking curves
• Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
• Anadolu Üniversitesi Adresli: Evet