Surface and Interface Study of Vanadium Oxide Nano Films
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES, cilt.65, 2009 (SCI-Expanded)
- Yayın Türü: Makale / Özet
- Cilt numarası: 65
- Basım Tarihi: 2009
- Doi Numarası: 10.1107/s0108767309098754
- Dergi Adı: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES
- Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
- Anahtar Kelimeler: X-ray reflectivity, atomic force microcopy, resistivity, metal oxide thin films, sensors, TEMPERATURE
- Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
- Anadolu Üniversitesi Adresli: Evet