Surface and Interface Study of Vanadium Oxide Nano Films

Creative Commons License

ÖKSÜZOĞLU R. M.

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES, cilt.65, 2009 (SCI-Expanded) identifier

  • Yayın Türü: Makale / Özet
  • Cilt numarası: 65
  • Basım Tarihi: 2009
  • Doi Numarası: 10.1107/s0108767309098754
  • Dergi Adı: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
  • Anahtar Kelimeler: X-ray reflectivity, atomic force microcopy, resistivity, metal oxide thin films, sensors, TEMPERATURE
  • Anadolu Üniversitesi Adresli: Evet