Surface and Interface Study of Vanadium Oxide Nano Films

ÖKSÜZOĞLU R. M.

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES, cilt.65, 2009 (SCI-Expanded)

• Yayın Türü: Makale / Özet
• Cilt numarası: 65
• Basım Tarihi: 2009
• Doi Numarası: 10.1107/s0108767309098754
• Dergi Adı: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES
• Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
• Anahtar Kelimeler: X-ray reflectivity, atomic force microcopy, resistivity, metal oxide thin films, sensors, TEMPERATURE
• Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
• Anadolu Üniversitesi Adresli: Evet