Atıf İçin Kopyala
Hurma T., Kose S.
OPTIK, cilt.127, sa.15, ss.6000-6006, 2016 (SCI-Expanded)
-
Yayın Türü:
Makale / Tam Makale
-
Cilt numarası:
127
Sayı:
15
-
Basım Tarihi:
2016
-
Doi Numarası:
10.1016/j.ijleo.2016.04.019
-
Dergi Adı:
OPTIK
-
Derginin Tarandığı İndeksler:
Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
-
Sayfa Sayıları:
ss.6000-6006
-
Anahtar Kelimeler:
CuS nanostructured film, XRD, Raman, Optical constants, THIN-FILMS, DEPOSITION, SCATTERING, AMMONIA, LAYER
-
Anadolu Üniversitesi Adresli:
Evet
Özet
Raman spectroscopy and X-ray diffraction (XRD) methods were applied to determine the phase composition and crystal quality of CuS nanostructured film grown by spray pyrolysis.